Zaloguj
Lista podręczna - 0
Pomoc
Wyszukiwanie
Konto czytelnika
Proste
Zaawansowane
Historia
Szukaj:
Autorzy - alfabetycznie
Autor - słowa kluczowe
Autorzy zbiorowi - alfabetycznie
Słowa z nazwy autora
Tytuły - alfabetycznie
Tytuły - słowa kluczowe
Czasopisma - alfabetycznie
Hasła przedmiotowe - alfabetycznie
Hasła przedmiotowe - słowa kluczowe
Hasła przedmiotowe - j. ang.
Hasła przedmiotowe - j. franc.
Serie - alfabetycznie
Serie - słowa kluczowe
ISBN
ISSN
Indeks główny
Opis - numer
Sygnatura
Numery norm
Tytuły prac doktorskich
Numer kontrolny rekordu
Zmień kryteria wyszukiwania
>
Biblioteka Główna Uniwersytetu Ekonomicznego w Poznaniu
Egzemplarze
Egzemplarze
Więcej pozycji tego autora
Rzepka, Agnieszka. Autor
Difin. Wydawca
Hasła przedm.
Małe i średnie przedsiębiorstwa -- zarządzanie -- Polska -- 1990-.
Kapitał intelektualny -- zarządzanie.
Małe i średnie przedsiębiorstwa -- zarządzanie -- Gruzja -- 1990-.
Przegląd katalogu
wg autora:
Rzepka, Agnieszka. Autor
Difin. Wydawca
wg tytułu:
Relacje międzyorgani...
Opis MARC
Relacje międzyorganizacyjne i kapitał intelektualny jako czynniki rozwoju mikro i małych przedsiębiorstw : studium na przykładzie wybranych przedsiębiorstw polskich i gruzińskich / Agnieszka Rzepka.
Autor:
Rzepka, Agnieszka. Autor
, Difin. Wydawca
Warszawa : Difin, 2018.
Hasła przedm.
Małe i średnie przedsiębiorstwa -- zarządzanie -- Polska -- 1990-.
Kapitał intelektualny -- zarządzanie.
Małe i średnie przedsiębiorstwa -- zarządzanie -- Gruzja -- 1990-.
ISBN:
9788380857094
978-83-8085-709-4
Opis:
271 stron : ilustracje ; 23 cm.
Wydanie:
Wydanie pierwsze.
Zawartość:
Streszczenia angielskie.
Bibliografia na stronach 250-271. Indeks.
UWAGA! Zamawianie i rezerwacja książek TYLKO dla pracowników i doktorantów UEP.
Egzemplarze
Kolekcja
Sygnatura
Status
Typ egzemplarza
Czytelnia Książek : Księgozbiór podstawowy (książki)
368430
Dostępny
Czytelnia - wolny dostęp
Format:
HTML
Tekstowy
Oddzielone znakiem
Temat:
Wyślij do (email):
Horizon Information Portal 3.23.1_6655
© 2001-2013
SirsiDynix
All rights reserved.
Zaloguj
Pomoc
